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技术特点：
1、全光纤光路：利用全光纤光路替代分立光路，使参考光和散射光信号不再受灰尘和杂散光的干扰，显著提高了信噪比和抗干扰能力。
3、大动态范围高速数字相关器：采用高速、低速通道搭配的光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实时获取动态范围大、基线稳定的相关函数。
4、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确性。
5、温度趋势分析：按照设定的温度范围，自动进行粒度和Zeta电位测量，检测样品粒度或电位的温度趋势。
6、毛细管样品池：使用改进型平底U形毛细管样品池测量Zeta电位，由于样品池底部是水平的，从而使得电场强度比传统的毛细管样品池更加均匀，减少测量误差，进而提高Zeta电位的测量精度与重复性。
7、增强型相位分析光散射技术(PALS)：通过测量光拍信号的相位变化来获得颗粒的Zeta电位，测量分辨率比电泳光散射法高两个数量级。
8、数据输出：提供数据输出功能，方便用户以自定义的图、表方式查看、对比测量结果
9、标准化操作：软件具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具可比性。
10、智能化测量：自动调整散射光强，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。
更多：Zeta电位分析仪
http://www.opptronix.net/Products-37089982.html
https://www.chem17.com/st482621/erlist_2254445.html